Rigaku lancia XTRAIA MF-3400, uno strumento di misurazione per i semiconduttori di prossima generazione

Rigaku Corporation, un partner globale per le soluzioni nel campo dei sistemi di analisi a raggi X e una società del gruppo Rigaku Holdings Corporation (uffici centrali: Akishima, Tokyo; CEO: Jun Kawakami; di seguito "Rigaku") ha lanciato XTRAIA MF-3400, uno strumento impiegato nei processi di produzione dei semiconduttori per misurare lo spessore e la composizione dei wafer. La soluzione XTRAIA MF-3400 migliorerà sensibilmente la produttività nel settore in rapida espansione dei semiconduttori, consentendo valutazioni ad alta precisione dei materiali, essenziali per la produzione di massa di chip di memoria di prossima generazione e di dispositivi IA ad alta velocità.

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Con l'espansione ininterrotta dell'IA generativa e dei data center, si sta registrando un picco nella domanda di semiconduttori ad alte prestazioni e a basso consumo energetico in grado di elaborare enormi volumi di dati.

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Contatto per la stampa:
Sawa Himeno
Direttrice, Ufficio comunicazioni, Rigaku Holdings Corporation
prad@rigaku.co.jp

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